Parametric yield ist eigentlich was anderes. Das hier relevante ist "binning", was den Prozess beschreibt, fehlerhafte aber teilweise funktionsfähige Chips zu sortieren (gibt's genauso bei LEDs, eigentlich alle Halbleiter). Yield ist im Endeffekt, wie viele funktionsfähige Chips pro Wafer erwartbar sind. Das bedeutet aber nicht, dass jeder funktionsfähige Chip die Reinheit liefert, um daraus einen high end Chip zu machen. Selbst bei "gleichen" CPUs hat man z.b. unterschiedliche maximalenÜbertaktungsfrequenzen, weil nicht jeder Chip gleich ist.

Und die aktuelle EUV Lithographie ist sowieso Magie, da glaube ich nicht, dass damit im Vergleich zu früher auf einmal mit 100% yield absolut fehlerfreie Strukturen hergestellt werden können (wenn schon Quanten Tunneleffekte beim Chipdesign die limitierende Größe ist)